CEMS fir Solid Offall Verbrennung

Produit Beschreiwung

Hausoffallverbrennungsanlagen sinn erfuerderlech fir automatesch, kontinuéierlech an online Iwwerwaachung vun den Haaptkomponente vum Verbrennungsofgas ze maachen. D'Basis Iwwerwaachungsartikelen enthalen HCl, SO₂, NOₓ a Rous, wärend CO an HF och an e puer Occasiounen musse festgestallt ginn. De Model TK-1000 Continuous Emission Monitoring System (CEMS) fir zolidd Offall / Hausoffall Verbrennung Rauchgas adoptéiert Technologien wéi DOAS UV Differenziell Absorptiounsspektroskopie an tunable Diode Laser Absorptiounsspektroskopie (TDLAS). Et ass fäeg fir verschidde Parameteren ze moossen, dorënner SO₂, NOₓ, O₂ an HCl. Mat enger einfacher Struktur, modulare Design, héich Stabilitéit an niddreg Betribskäschte, ass de System am Iwwerwachung Statioun Sall fir einfach Operatioun an Ënnerhalt installéiert.

Ufro Online

Modell

TK-1000

KONTAKT EIS

Technesch Spezifikatioune

A. Miessprinzip: UV Differentialabsorption (DOAS) fir NO a SO₂; Elektrochemie fir O₂

Null Drift: ≤±2% F.S.
Spanndrift: ≤±2% F.S.
Indikatiounsfehler: ≤±2% F.S.
Detektiounsgrenz: ≤0,5% F.S.
Äntwert Time (T90): ≤75s

B. Particulate Matter Monitor (SDUST-100)

Miessunge Beräich: Konfiguréierbar Beräich
Null Drift: ± 2% F.S./24h
Spann Drift: ± 2% F.S./24h

C. Temperatur, Drock a Flow Monitor (SVPT-100)

Temperatur Miessbereich: 0-500 ℃
Genauegkeet: ≤±3℃
Drock Miessunge Beräich: ± 10kPa
Flowrate Miessbereich: (2~40)m/s
Genauegkeet: Relative Feeler ≤± 10% wann Flux Taux ＞10m / s; relativ Feeler ≤ ± 12% wann Flux Taux ≤ 10m / s

D. Fiichtegkeet Monitor (Modell SSD-100)

Miessbereich: (0~40) vol%
Genauegkeet: Absolute Feeler ≤±1,5% wann Fiichtegkeet ≤5%; relative Feeler ≤±25% wann Fiichtegkeet ＞5%

Technesch Virdeeler

All Instrumenter vum komplette System sinn selwer entwéckelt, mat engem standardiséierte a modulare Design fir einfach an zouverlässeg Zesummesetzung.
Baséierend op UV Differential Absorptioun Spektroskopie (DOAS) Technologie, erreecht den innovative Multi-Parameter gemeinsame Schätzung an Interferenz Annulatioun Algorithmus extrem niddereg Nulldrift a Spanndrift iwwer e breet Temperaturbereich.
D'Adoptioun vun der PLC-Kontroll mat engem héigen Niveau vun der Automatisatioun, weist de Flëssegkristallbildschierm de Systemflosswee a sammelt detailléiert Statusinformatioun vum System, wat als déi gënschtegst Ressource fir d'Datenvaliditéitsverifizéierung dénge kann.
Déi zouverlässeg laang optesch Wee gehëtzt Gaszell Design erlaabt den opteschen Wee bis zu 760 mm z'erreechen.
Et ënnerstëtzt ultra-niddereg Konzentratiounsmessung mat enger Resolutioun vu bis zu 0,1 ppm.
D'Spektralbreet vum Halbleiterlaser ass manner wéi 0,001 nm, wat d'Kräizinterferenz vermeit, déi duerch Stëbs a Fiichtegkeet verursaacht gëtt.