מוצרים

CEMS עם שיטה יבשה קרה

תיאור המוצר

מערכת TK-1000 ניטור פליטה מתמשכת (CEMS) מאמצת טכנולוגיית ספקטרוסקופיה ספיגה דיפרנציאלית מסוג DOAS (Differential Optical Absorption Spectroscopy) מתקדמת של UV, בשילוב עם שיטת מיצוי קר-יבש וניטור אבק פיזור לאחור בלייזר. הוא מסוגל למדוד פרמטרים מרובים כולל SO₂, NOₓ, O₂, טמפרטורה, לחץ, קצב זרימה, חלקיקים ולחות. המערכת כולה כוללת מבנה פשוט, עיצוב מודולרי, יציבות גבוהה ועלויות תפעול נמוכות.

  • דגם

    TK-1000

מפרט טכני

א. עקרון המדידה: בליעת UV דיפרנציאלית (DOAS) עבור NO ו-SO₂; אלקטרוכימיה עבור O₂

  • אפס סחיפה: ≤±2% F.S.
  • סחף טווח: ≤±2% F.S.
  • שגיאת חיווי: ≤±2% F.S.
  • מגבלת זיהוי: ≤0.5% F.S.
  • זמן תגובה (T90): ≤75 שניות

 

ב. צג חלקיקים (SDUST-100)

  • טווח מדידה: טווח ניתן להגדרה
  • אפס סחיפה: ±2% F.S./24 שעות
  • סחף טווח: ±2% F.S./24 שעות

 

ג. צג טמפרטורה, לחץ וזרימה (SVPT-100)

  • טווח מדידת טמפרטורה: 0-500℃
  • דיוק: ≤±3℃
  • טווח מדידת לחץ: ±10kPa
  • טווח מדידת קצב זרימה: (2~40)m/s
  • דיוק: שגיאה יחסית ≤±10% כאשר קצב זרימה >10m/s; שגיאה יחסית ≤±12% כאשר קצב זרימה ≤10m/s

 

ד. צג לחות (דגם SSD-100)

  • טווח מדידה: (0~40)vol%
  • דיוק: שגיאה מוחלטת ≤±1.5% כאשר לחות ≤5%; שגיאה יחסית ≤±25% כאשר לחות >5%

יתרונות טכניים

  1. עיצוב סטנדרטי ומודולרי להרכב פשוט ואמין.
  2. בהתבסס על טכנולוגיית ספקטרוסקופיה של UV דיפרנציאלי ספיגה (DOAS), אלגוריתם הערכת המפרקים הרב-פרמטרים החדשני וביטול הפרעות מממש אפס סחיפה וסחיפה נמוכה ביותר על פני טווח טמפרטורות רחב.
  3. מאמצת בקרת PLC עם רמת אוטומציה גבוהה. מסך הגביש הנוזלי מציג את נתיב זרימת המערכת ואוסף מידע סטטוס מפורט של המערכת, אשר יכול לשמש כמשאב הטוב ביותר לאימות תקפות הנתונים.

אולי תאהב גם

הצג הכל
בית
מוצרים
אודותינו
אנשי קשר

אנא השאר לנו הודעה

    * שם

    *דוא"ל

    טלפון / WhatsAPP / WeChat

    * מה שיש לי לומר.