CEMS met kouddroge methode

Productbeschrijving

Het TK-1000 Continuous Emission Monitoring System (CEMS) maakt gebruik van geavanceerde DOAS (Differential Optical Absorption Spectroscopy) UV-differentiële absorptiespectroscopietechnologie, gecombineerd met de extractieve kouddroogmethode en laser-terugverstrooiingsstofmonitor. Het is in staat meerdere parameters te meten, waaronder SO₂, NOₓ, O₂, temperatuur, druk, debiet, fijnstof en vochtigheid. Het gehele systeem heeft een eenvoudige structuur, een modulair ontwerp, hoge stabiliteit en lage bedrijfskosten.

Informeer online Download PDF

Model

TK-1000

NEEM CONTACT MET ONS OP

Technische specificaties

A. Meetprincipe: Differentiële UV-absorptie (DOAS) voor NO en SO₂; elektrochemie voor O₂

Nulafwijking: ≤±2% F.S.
Spanafwijking: ≤±2% F.S.
Indicatiefout: ≤±2% F.S.
Detectielimiet: ≤0,5% F.S.
Reactietijd (T90): ≤75s

B. Fijnstofmonitor (SDUST-100)

Meetbereik: configureerbaar bereik
Nulafwijking: ±2% V.S./24 uur
Spanafwijking: ±2% F.S./24h

C. Temperatuur-, druk- en flowmonitor (SVPT-100)

Temperatuurmeetbereik: 0–500℃
Nauwkeurigheid: ≤±3℃
Drukmeetbereik: ±10kPa
Meetbereik debiet: (2~40) m/s
Nauwkeurigheid: Relatieve fout ≤±10% bij stroomsnelheid >10 m/s; relatieve fout ≤±12% bij stroomsnelheid ≤10m/s

D. Vochtigheidsmonitor (model SSD-100)

Meetbereik: (0~40) vol%
Nauwkeurigheid: Absolute fout ≤±1,5% bij vochtigheid ≤5%; relatieve fout ≤±25% bij vochtigheid >5%

Technische voordelen

Gestandaardiseerd en modulair ontwerp voor eenvoudige en betrouwbare samenstelling.
Gebaseerd op UV-differentiële absorptiespectroscopie (DOAS)-technologie, realiseert het innovatieve multi-parameter gezamenlijke schatting en interferentie-annuleringsalgoritme een extreem lage nul-drift en span-drift over een breed temperatuurbereik.
Keurt PLC-besturing met een hoog automatiseringsniveau goed. Het LCD-scherm geeft het stroompad van het systeem weer en verzamelt gedetailleerde statusinformatie van het systeem, die kan worden gebruikt als de meest gunstige bron voor verificatie van de gegevensvaliditeit.